Inferential signal generator for instrumented equipment and...

G - Physics – 01 – D

Patent

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G01D 1/00 (2006.01) G01D 3/08 (2006.01) G01D 21/00 (2006.01)

Patent

CA 2428033

An improved system and method for producing replacement sensor signals for failed sensors (150), and inferred sensor signals (160) for non-instrumented physical parameters, in processes and equipment having one or more sensors in place for monitoring physical parameters. A data history from a fully- instrumented prototype (110) provides a representative data set of anticipated operating parameters for forming an empirical model for generating "virtual" signals for a process or machine in real-time. A memory (551) for storing the representative training set, or a transformation thereof, is coupled to a processor (545). The processor (545) receives from an input, data signals embodying real values from sensors on the process or machine. The processor (545) takes a set of readings of the actual sensors from the input, and generates an estimate of one or more desired inferred sensors, using a linear combination of the representative training set sensor data, as weighted by the result of a measure of similarity of the input data to the representative data.

Cette invention concerne un système et un procédé améliorés permettant de produire des signaux de détecteur de rechange en cas de défaillance des détecteurs en place, ainsi que des signaux de détecteurs inférés pour paramètres physiques non instrumentés dans le cas de processus et de matériels assortis d'un ou de plusieurs détecteurs pour la surveillance de paramètres physiques. Un historique de données provenant d'un prototype entièrement instrumenté fournit un ensemble de données représentatives de paramètres de fonctionnement prévus pour l'établissement d'un modèle empirique dans un module informatique en vue de la création en temps réel de signaux <= virtuels >= pour processus ou pour machines. Des signaux de détection de rechange ou infertiles peuvent être utilisés de façon avantageuse dans le traitement et l'analyse de commande en aval. Les signaux de détection de rechange ou inférés ainsi produits peuvent être retournés à un système de commande ou à un système d'affichage localisé au niveau d'un processus ou d'une machine, ou bien situé à distance ou bien encore en un point éloigné différent. Les systèmes peuvent fournir des valeurs de paramètres attendues ainsi que des écarts entre des signaux attendus et d'entrée. Le système peut fournir des valeurs de paramètres imprévues ainsi que des écarts entre des signaux attendus et des signaux d'entrée. Le système peut aussi fournir des mesures brutes de similitude entre la collecte de signaux d'entrée et la collecte d'états modélisés acceptables. Une mémoire destinée à stocker un ensemble d'apprentissage représentatif, ou une transformation de cet ensemble, est couplée à un processeur. Ce processeur reçoit de données d'entrée des signaux incorporant des valeurs réelles de détecteurs effectivement mis en oeuvre dans le cadre d'un processus ou sur une machine, la réception des signaux pouvant se faire en temps réel. Le processeur est fait pour effectuer une série de lectures de détecteurs réels à partir de l'entrée et pour générer une estimation d'un ou de plusieurs détecteurs inférés requis, au moyen d'une combinaison linéaire des données de détecteur représentatives de l'ensemble d'apprentissage, pondérés par le résultat de la mesure de similarité des données de détecteur d'entrée en fonction des données de détecteur représentatives de l'ensemble d'apprentissage représentatives.

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