G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 27/00 (2006.01) G01N 25/72 (2006.01) G01N 33/00 (2006.01)
Patent
CA 2423784
An infrared thermographic technique for rapid parallel screening of compositional arrays of potential chemical sensor materials has been developed. The technique involves applying a voltage bias and the associated current to the sample array during screening. The thermographic response is amplified by the resistance change that occurs with gas adsorption, and is directly monitored as the temperature change associated with I2R heating. This technique can also be used to determine n- or p-type character for the semiconductor in question.
Cette invention a permis de mettre au point une technique thermographique à infrarouge pour le criblage parallèle rapide de matrices compositionnelles de matériaux de capteurs chimiques potentiels. Cette technique consiste à appliquer une tension de polarisation et le courant qui lui est associé à la matrice d'échantillons pendant l'opération de criblage. La réponse thermographique est amplifiée par la variation de résistance qui se produit avec l'adsorption de gaz et cette réponse est directement surveillée en tant que variation de température associée à l'échauffement par I?2¿R. Cette technique peut également servir à déterminer le caractère de type n ou p du semi-conducteur en question.
Mccarron Eugene Michael
Morris Patricia A.
E.i. Du Pont de Nemours And Company
Torys Llp
LandOfFree
Infrared thermographic screening technique for... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Infrared thermographic screening technique for..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Infrared thermographic screening technique for... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1676627