Inspection of matter

Details Inspection of matter Inspection of matter

G - Physics

01

N

G01N 21/00 (2006.01) B07C 5/342 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01) G01N 21/25 (2006.01)

Patent

CA 2367815

Apparatus for automatically inspecting a stream of matter comprises lamps (38) which emit a detection medium, such as IR or visible light, to be active at the matter, a rotary polygonal mirror (19) which receives from a multiplicity of detection zones Z at the matter detection medium which has been varied by variations in the matter, an optional detection device (22) which receives the varied medium by reflection from the mirror (19), to detect a plurality of wavelengths of the varied medium substantially simultaneously, and to generate detection data in respect of that plurality of wavelengths substantially simultaneously and in dependence upon the variations in the medium, and a microprocessor (26) which obtains the detection data from the device (22). The beams B of the varied medium which are received at the device (22) and emanate from the zones Z travel along respective paths from the matter to the mirror (19) which paths converge continuously with respect to each other from the matter to the mirror (19). Those paths may extend to the mirror (19) indirectly by way of at least one planar mirror (80), or directly to the mirror (19), in which latter case the axis of the mirror (19) would be substantially parallel to the direction D of advance of the matter.

L'invention se rapporte à un appareil permettant l'inspection automatique d'un flux de matière. Ledit appareil comporte des lampes (38) qui émettent un milieu de détection, tel qu'un rayonnement IR ou visible, qui puisse être actif sur la matière; un miroir polygonal rotatif (19) qui reçoit un rayonnement d'une pluralité de zones de détection Z au niveau du milieu de détection de la matière qui a été modifié du fait des variations dans la matière; un dispositif de détection optique (22) qui reçoit le milieu modifié par réflexion sur le miroir (19) et qui peut ainsi détecter une pluralité de longueurs d'onde dudit milieu de manière sensiblement simultanée et générer des données de détection en rapport avec cette pluralité de longueurs d'ondes de manière sensiblement simultanée et indépendamment des variations dans le milieu; et un microprocesseur (26) qui reçoit les données de détection en provenance dudit dispositif (22). Les faisceaux B du milieu modifié, qui sont reçus par le dispositif (22) et proviennent des zones Z, se propagent le long de chemins respectifs, de la matière vers le miroir (19), lesdits chemins convergeant de manière continue les uns par rapport aux autres, de la matière vers le miroir (19). Ces chemins peuvent se prolonger jusqu'au miroir (19), soit indirectement par le biais d'au moins un miroir plan (80), soit directement, auquel cas l'axe du miroir (19) doit être sensiblement parallèle à la direction D de progression de la matière.

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