Inspection system using dynamically obtained values and...

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 31/28 (2006.01) G01N 21/956 (2006.01) G01R 31/309 (2006.01) G06K 9/62 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)

Patent

CA 2446259

A method and apparatus for identifying and categorizing one or more characteristics associated with a circuit board. Locations on the circuit board, referred to as palette regions, at which representative values for each category can be measured are identified. During an inspection process, characteristic values are dynamically measured at each of the palette regions on each circuit board being inspected and the values at the palette regions can be provided to a variety of models used in the inspection process. Characteristic values are also dynamically measured at regions of interest (ROIs) on the circuit board and are processed by the inspection models. In one embodiment, a negative model receives the characteristic values associated with an ROI and determines whether the characteristic values correspond to a bare or unpopulated circuit board or in the case of a populated circuit board the negative model can determine whether a circuit component is missing.

L'invention concerne un procédé et un appareil d'identification et de catégorisation d'une ou de plusieurs caractéristique(s) associée(s) d'une carte de circuit imprimé. Les emplacements sur la carte de circuit imprimé, appelés zones de palette, auxquels les valeurs représentatives de chaque catégorie peuvent être mesurées et identifiées. Au cours d'une inspection, les valeurs caractéristiques sont mesurées dynamiquement sur chaque zones de palette de chaque carte de circuit imprimé inspectée et les valeurs des zones de palette peuvent être données à différents types de modèles utilisés lors de l'inspection. Les valeurs caractéristiques sont également dynamiquement mesurées en des zones présentant un intérêt (ROI) sur la carte de circuit imprimé et sont traitées à l'aide des modèles d'inspection. L'invention concerne également un modèle négatif qui reçoit les valeurs caractéristiques associées à un ROI et détermine si les valeurs caractéristiques correspondent à une carte de circuit imprimé vierge ou non garnie ou, dans le cas d'une carte de circuit imprimé garnie, le modèle négatif peut déterminer l'absence éventuelle d'un composant de circuit.

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