Instrumentation, articles of manufacture, and analysis methods

Details Instrumentation, articles of manufacture, and analysis methods Instrumentation, articles of manufacture, and analysis methods

H - Electricity

01

J

H01J 49/00 (2006.01)

Patent

CA 2523107

Analysis methods are provided that include generating a sample data set using a sample, the sample data set comprising first and second data sets, wherein each of the first and second data sets comprises at least one of an analytical parameter and a sample characteristic acquired using the analytical parameter; and using the first and the second data sets, identifying the sample. Instruments including an ionization source configured to apply different ionization energies to a sample to provide different sample characteristics, and processing circuitry configured to process the different sample characteristics to identify the sample are provided.

L'invention concerne des méthodes d'analyse, qui consistent à générer un ensemble de données d'échantillon au moyen d'un échantillon, lequel ensemble de données d'échantillon est constitué d'un premier et d'un second ensembles de données d'échantillon comprenant chacun au moins un paramètre d'analyse et une caractéristique de l'échantillon acquise à l'aide du paramètre d'analyse. Les méthodes de l'invention consistent également à mettre en oeuvre le premier et le second ensembles de données et à identifier l'échantillon. On décrit des instruments comprenant une source d'ions configurée pour appliquer différentes énergies sur un échantillon en vue de déterminer différentes caractéristiques de l'échantillon, et des circuits de traitement configurés pour traiter les différentes caractéristiques de l'échantillon en vue d'identifier l'échantillon.

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