Integrated multi-channel analog test instrument architecture

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 31/28 (2006.01)

Patent

CA 2347236

Analog test instrument architecture for performing functional testing of electronic circuit assemblies is disclosed. The analog test instrument includes a plurality of identical channels, each channel including circuitry for driving test stimuli and measuring responses at one node of a circuit assembly under test. The driver and measurement circuitry in each channel implement functions that traditionally have been implemented in a test system using discrete instruments. The analog test instrument further includes a master clock reference, which is used for synchronizing the operation of the driver and measurement circuits. Each channel further includes triggering circuitry for distributing trigger events within the channel and to the other channels; and, an input buffer, which is shared by the measurement circuits in the channel. The synchronized operation, distributed trigger events, and shared input buffers are used to improve the correlation of measurements made during functional testing.

L'invention concerne une architecture d'instrument d'essai analogique permettant l'essai fonctionnel d'ensembles de circuits électroniques. Ledit instrument d'essai analogique comprend plusieurs voies identiques comprenant chacune des circuits destinés à produire des stimuli d'essai et des réponse de mesure au niveau d'un noeud d'un ensemble de circuits en cours d'essai. Les circuits d'attaque et de mesure dans chaque voie permettent l'exécution de fonctions ayant été généralement exécutées dans un système d'essai, au moyen d'instruments séparés. L'instrument d'essai analogique comprend, par ailleurs, une référence d'horloge principale qui est utilisée pour la synchronisation et l'exploitation des circuits d'attaque et de mesure. Chaque voie comprend également des circuits de déclenchement qui répartissent les événements de déclenchement dans la voie et dans les autres voies; et, un tampon d'entrée qui est partagé par les circuits de mesure dans la voie. L'opération synchronisée, les événements de déclenchement et les tampons d'entrée partagés sont utilisés pour l'amélioration de la corrélation des mesures effectuées pendant l'essai fonctionnel.

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