G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 8/02 (2006.01) G01N 9/24 (2006.01) G01N 15/02 (2006.01) G01N 21/25 (2006.01) G01N 21/55 (2006.01) G01N 21/59 (2006.01)
Patent
CA 2756285
Various systems and methods for performing optical analysis downhole with an interferogram (a light beam having frequency components with a time variation that identifies those frequency components. The interferogram is produced by introducing an interferometer into the light path, with the two arms of the interferometer having a propagation time difference that varies as a function of time. Before or after the interferometer, the light encounters a material to be analyzed, such as a fluid sample from the formation, a borehole fluid sample, a core sample, or a portion of the borehole wall. The spectral characteristics of the material are imprinted on the light beam and can be readily analyzed by processing electronics that perform a Fourier Transform to obtain the spectrum or that enable a comparison with one or more templates. An interferometer designed to perform well in the hostile environments downhole is expected to enable laboratory-quality measurements.
Cette invention concerne différents systèmes et procédés permettant d'effectuer une analyse optique de fond au moyen d'un interférogramme (faisceau de lumière ayant des composants de fréquence avec une variation temporelle identifiant ces composants). L'interférogramme est produit en introduisant un interféromètre dans la trajectoire lumineuse, les deux bras de l'interféromètre ayant une différence temporelle de propagation variant en fonction du temps. Avant ou après l'interféromètre, la lumière croise un matériau à analyser, par exemple un échantillon de fluide issu de la formation, un échantillon de fluide de forage, une carotte ou une partie de la paroi du forage. Les caractéristiques spectrales du matériau sont imprimées sur le faisceau de lumière et peuvent être facilement analysées par un traitement électronique réalisant une transformée de Fourier pour obtenir le spectre, ou qui permettent une comparaison avec un ou plusieurs modèles. Un interféromètre conçu pour fonctionner correctement dans les environnements hostiles de fond permet, en principe, d'obtenir des mesures de qualité équivalente à celle d'un laboratoire.
Jones Christopher M.
Morys Marian L.
Zannoni Steve A.
Emery Jamieson Llp
Halliburton Energy Services Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2042734