H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/06 (2006.01)
Patent
CA 2527991
Improvements have been made for collecting, focusing, and directing of ions and/or charged particles generated at atmospheric or near atmospheric pressure sources, such as but not limited to, electrospray; atmospheric pressure discharge ionization, chemical ionization, photoionization, and matrix assisted laser desorption ionization; and inductively coupled plasma ionization. A multiple-aperture laminated structure is place at the interface of two pressure regions. Electric fields geometries and strengths across the laminated structure and diameters of the apertures; all of which act to optimize the transfer of the ions from the higher pressure region into the lower pressure region while reducing the gas-load on the lower pressure region. Embodiments of this invention are methods and devices for improving sensitivity of mass spectrometry when coupled to atmospheric, near atmospheric, or higher pressure ionization sources by reducing the gas-load on the vacuum system.
La présente invention concerne des améliorations qui permettent de mieux collecter, focaliser et diriger des ions et/ou des particules chargées produites par des sources à la pression atmosphérique ou proches de la pression atmosphérique, dans, par exemple et de manière non exhaustive, l'électronébulisation ; l'ionisation par décharge à la pression atmosphérique, l'ionisation chimique, la photoionisation et la désorption-ionisation par impact laser assistée par matrice ; et l'ionisation par plasma à couplage inductif. Selon l'invention, une structure laminée à ouvertures multiples est placée à l'interface entre deux régions de pression. Les géométries et les forces des champs électriques sur la structure laminée, de même que les diamètres des ouvertures, permettent d'optimiser le transfert des ions de la région à pression plus élevée vers la région à pression inférieure tout en réduisant la charge gazeuse sur la région à pression inférieure. L'invention se rapporte à des modes de réalisation de procédés et de dispositifs qui permettent d'améliorer la sensibilité de la spectrométrie de masse lorsqu'ils sont couplés à des sources d'ionisation à la pression atmosphérique, proches de la pression atmosphérique ou à pression plus élevée, en réduisant la charge gazeuse sur le système de vide.
Sheehan Edward W.
Willoughby Ross C.
Ridout & Maybee Llp
Sheehan Edward W.
Willoughby Ross C.
LandOfFree
Ion enrichment aperture arrays does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Ion enrichment aperture arrays, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Ion enrichment aperture arrays will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1604487