Ion optics drain for ion mobility

Details Ion optics drain for ion mobility Ion optics drain for ion mobility

H - Electricity

01

J

H01J 49/06 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2754924

A sample analysis system incorporates an ion removal mechanism for removing residual ions from the sample analysis system. The ion removal mechanism can be included in an ion optics assembly, which connects an ion mobility filter to a mass analyzer. A sample to be analyzed by the sample analysis system may be entered into an ion mobility filter. The ion mobility filter filters the ions of the sample and passes the filtered group of ions to the ion optics assembly. The ion optics assembly transports the filtered group of ions to a mass analyzer where some or all of the ions in the group are detected. The ion removal mechanism then removes all or substantially all residual ions from the ion optics that were left over from the first filtered group before a second filtered group is passed through.

Un système d'analyse d'échantillon incorpore un mécanisme de suppression d'ions permettant de supprimer les ions résiduels du système d'analyse d'échantillon. Le mécanisme de suppression d'ions peut être inclus dans un ensemble optique d'ions, qui connecte un filtre de mobilité ionique à un analyseur de masse. Un échantillon devant être analysé par le système d'analyse d'échantillon peut entrer dans un filtre de mobilité ionique. Ledit filtre de mobilité ionique filtre les ions de l'échantillon et envoie le groupe filtré d'ions à l'ensemble optique d'ions. Ledit ensemble optique d'ions transporte le groupe filtré d'ions jusqu'à un analyseur de masse où une partie ou l'ensemble des ions du groupe sont détectés. Le mécanisme de suppression d'ions supprime alors tous les ions résiduels ou presque de l'optique d'ions qui sont restés du premier groupe filtré avant qu'un second groupe filtré ne soit admis.

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