Ion sources for mass spectrometry

Details Ion sources for mass spectrometry Ion sources for mass spectrometry

H - Electricity

01

J

H01J 49/16 (2006.01) B01D 59/44 (2006.01) H01J 49/40 (2006.01)

Patent

CA 2597252

Provided are ion sources, methods of forming ions and mass analyzer systems. In various embodiments, the present teachings provide ion sources, methods for focusing ions from an ion source, and methods for operating a time-of-flight mass analyzer. In various embodiments, the present teachings relate to matrix- assisted laser desorption/ionization (MALDI) ion sources and methods of MALDI ion source operation, for use with mass analyzers. In various aspects, provided are ion sources and methods of operation thereof that facilitate increasing one or more of sensitivity and resolution of a TOF mass analyzer configured for multiple modes of operation.

La présente invention concerne des sources d'ions, des procédés de formation d'ions et des systèmes d'analyse de masse. Dans divers modes de réalisation, cette invention concerne des sources d'ions, des procédés permettant de concentrer des ions à partir d'une source d'ions, ainsi que des procédés de fonctionnement d'un analyseur de masse de temps de vol. Dans divers modes de réalisation, cette invention concerne des sources d'ions pour désorption/ionisation par impact laser assistée par matrice (MALDI) et des procédés et de fonctionnement de sources d'ions MALDI, en vue de leur utilisation avec des analyseurs de masse. Dans divers aspects, cette invention concerne des sources d'ions, et des procédés de fonctionnement de celles-ci, qui facilitent l'augmentation de la sensibilité et/ou de la résolution d'un analyseur de masse TOF conçu pour de multiples modes de fonctionnement.

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