G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 9/02 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01) G01C 1/00 (2006.01)
Patent
CA 2270228
A laser measurement system for rapid calibration of machine tools includes a measurement enhancement device which enables an existing standard single degree of freedom laser interferometry system to simultaneously measure up to four additional degrees of freedom. The device includes a first beamsplitter (56) which splits a laser beam of the existing measurement system, such as return laser beam (58), into a first beam (60) for use by an existing component of the existing interferometry system, and a second beam (62) for use by the measurement enhancement device. The measurement enhancement device also includes a measurement component which simultaneously receives second beam (62) for determination of a measurement value for at least a second degree of freedom in response to second beam (62).
L'invention concerne un système de mesure laser permettant l'étalonnage rapide de machines-outils, comprenant un dispositif d'augmentation de mesure qui permet à un système d'interférométrie laser standard existant prévu pour un seul degré de liberté de mesurer simultanément jusqu'à quatre degrés de liberté additionnels. Le dispositif comprend un premier diviseur de faisceau (56) qui divise un faisceau laser du système de mesure existant, tel qu'un faisceau laser de retour (58), en un premier faisceau (60), destiné à être utilisé par un composant existant du système d'interférométrie existant, et en un second faisceau (62), destiné à être utilisé par le dispositif d'augmentation de mesure. Ce dispositif d'augmentation de mesure comporte également un composant de mesure qui reçoit simultanément le second faisceau (62) pour permettre la détermination d'une valeur de mesure concernant au moins un second degré de liberté, en réaction à ce second faisceau (62).
Piasetzki & Nenniger Llp
The Research Foundation Of State University Of New York
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1843929