Light emitting diode based measurement systems

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 15/14 (2006.01)

Patent

CA 2534859

Various light emitting diode (LED) based measurement systems and methods are provided. One system includes one or more arrays of LEDs (14, 16, 18) arranged along a flow path (20) of a sample (10). The array(s) are configured to illuminate the sample as the sample moves along the flow path. The system also includes one or more detectors (24) configured to detect light resulting from illumination of the sample by the array(s). One method includes illuminating a microsphere at different positions along a flow path of the microsphere. The method also includes detecting light resulting from the illumination to produce individual output signals corresponding to the illumination at the different positions. The method further includes combining the individual OUTPUT signals to produce a single output signal having a signal-to-noise ratio that is greater than a signal-to-noise ratio of the individual output signals.

La présente invention concerne plusieurs systèmes et procédés de mesure basés sur des diodes électroluminescentes (DEL). Un système comprend un ou plusieurs réseaux de DEL (14, 16, 18) disposés le long d'un chemin d'écoulement (20) d'un échantillon (10). Les réseaux sont configurés pour éclairer l'échantillon lorsque ce dernier se déplace le long du chemin d'écoulement. Le système comprend également un ou plusieurs détecteurs (24) configurés pour détecter la lumière produite par l'éclairement de l'échantillon par les réseaux. Un procédé consiste à éclairer une microsphère à différents endroits le long d'un chemin d'écoulement de la microsphère. Le procédé consiste également à détecter la lumière produite par l'éclairement afin de produire des signaux de sortie individuels correspondant à l'éclairement au niveau des différents endroits. Le procédé consiste également à combiner les signaux de sortie individuels pour produire un signal de sortie unique ayant un rapport signal sur bruit qui est supérieur à un rapport signal sur bruit des signaux de sortie individuels.

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