Mass defect triggered information dependent acquisition

Details Mass defect triggered information dependent acquisition Mass defect triggered information dependent acquisition

H - Electricity

01

J

H01J 49/26 (2006.01) G01N 30/72 (2006.01) G01N 37/00 (2006.01)

Patent

CA 2629203

Systems and methods for analyzing compounds in a sample. In one embodiment, a mass spectrometer includes an ion source for emitting a plurality of ions from a sample together with a detector positioned downstream of said ion source and configured to detect the impact of emitted ions on the detector. The mass spectrometer also includes a controller operatively coupled to the detector and to the ion source and configured to calculate the m/z for each detected ion. The controller comprises a mass defect filter configured to determine if the m/z for each detected ion falls within a pre- determined mass defect range. The mass spectrometer also includes data storage coupled to the controller, wherein the data storage is configured to store detected ion m/z data corresponding to the m/z for a detected ion if the m/z falls within the mass defect range. The mass spectrometer may also include an ion mass filter positioned downstream of the ion source and operatively coupled to the controller. The ion mass filter is configured to selectively filter for ions substantially corresponding to the stored detected ion m/z data. The spectrometer may also include a fragmentor operatively coupled to the ion mass filter, wherein the fragmentor is configured to fragment each selected ion and to emit each fragment towards the detector. The controller is operatively coupled to the fragmentor and configured to calculated the m/z for each fragment detected by the detector. The data storage is preferably further configured to store fragment m/z data corresponding to the m/z for each detected fragment.

Cette invention concerne des systèmes et des procédés d'analyse de composés dans un échantillon. Dans un mode de réalisation, un spectromètre de masse comprend une source d'ions servant à émettre une pluralité d'ions à partir d'un échantillon, ainsi qu'un détecteur positionné en aval de la source d'ions et conçu pour détecter l'impact d'ions émis sur le détecteur. Ce spectromètre de masse comprend également une unité de commande couplée de manière opérationnelle au détecteur et à la source d'ions et conçue pour calculer le rapport masse/charge pour chaque ion détecté. L'unité de commande comprend un filtre de défaut de masse conçu pour déterminer si le rapport masse/charge pour chaque ion détecté se trouve dans une gamme de défaut de masse prédéterminée. Le spectromètre de masse comprend également une mémoire de données couplée à l'unité de commande, laquelle mémoire de données est conçue pour stocker des données relatives au rapport masse/charge des ions détectés correspondant au rapport masse/charge pour un ion détecté si le rapport masse/charge se trouve dans la gamme de défaut de masse. Le spectromètre de masse peut également comprendre un filtre de masse d'ions positionné en aval de la source d'ions et couplé de manière opérationnelle à l'unité de commande. Le filtre de masse d'ions est conçu pour filtrer sélectivement des ions correspondant substantiellement aux données stockées relatives au rapport masse/charge des ions détectés. Le spectromètre peut également comprendre une unité de fragmentation couplée de manière opérationnelle au filtre de masse d'ions, l'unité de fragmentation étant conçue pour fragmenter chaque ion sélectionné et pour émettre chaque fragment en direction du détecteur. L'unité de commande est couplée de manière opérationnelle à l'unité de fragmentation et conçue pour calculer le rapport masse/charge pour chaque fragment détecté par le détecteur. La mémoire de données est également de préférence conçue pour stocker des données relatives au rapport masse/charge des fragments correspondant au rapport masse/charge pour chaque fragment détecté.

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