Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer

Details Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer

H - Electricity

01

J

H01J 49/26 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2198655

An improved method of using an ion trap mass spectrometer is disclosed. According to the method an asymmetrical trapping field is applied to the trap. Preferably, the asymmetrical trapping field comprises a quadrupole field and a dipole field having the same frequency. In addition, higher order trapping field components, such as hexapole or octopole fields, may also be included, and the electrodes of the ion trap can be shaped to introduce such higher order field components. The effect of the asymmetrical trapping field of the present invention is to cause the center of the trapping field to be displaced from the mechanical center of the ion trap. A supplemental quadrupole field is then applied to the ion trap, the center of the supplemental quadrupole field being located at the mechanical center of the trap, i.e., it is displaced from the center of the trapping field. The supplement quadrupole field and the trapping field may be viewed as forming one combined field which acts upon the ions in the trap. The combined field is then scanned to cause ions of differing masses to be resonantly ejected from the ion trap in sequential mass order. Preferably, the combined field is scanned by scanning the voltage of the trapping field. Preferably, the supplemental field is set to have a frequency which is two-thirds of the trapping field frequency and is phase locked with the trapping field frequency.

Méthode améliorée d'utilisation d'un spectromètre de masse à piège à ions. Selon cette méthode, un champ de piégeage asymétrique est appliqué au piège. De préférence, le champ de piégeage asymétrique comprend un champ dipôle et un champ quadrupôle ayant la même fréquence. De plus, des composantes de champ de piégeage de rang supérieur peuvent également être utilisées, p. ex. des champs hexapôles ou octopôles, et les électrodes du piège à ions peuvent être formées pour produire ces composantes. L'effet du champ de piégeage asymétrique de cette invention consiste à décaler le centre du champ de piégeage par rapport au centre matériel du piège à ions. Un champ quadrupôle supplémentaire, dont le centre est situé au centre matériel du piège, donc décalé par rapport au centre du champ de piégeage, est ensuite appliqué au piège à ions. Le champ quadrupôle supplémentaire et le champ de piégeage peuvent être considérés comme un seul champ combiné qui agit sur les ions dans le piège. Le champ combiné est ensuite balayé pour que des ions de masse différente soient éjectés par résonance du piège à ions par ordre de masse. De préférence, le champ combiné est balayé par balayage de la tension du champ de piégeage. De préférence, le champ supplémentaire est réglé à une fréquence égale au deux tiers de celle du champ de piégeage et asservie en phase à la fréquence du champ de piégeage.

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