Mass spectrometer

Details Mass spectrometer Mass spectrometer

H - Electricity

01

J

H01J 49/04 (2006.01)

Patent

CA 2588804

A mass spectrometer is disclosed comprising a mass selective ion trap or mass analyser (4) arranged upstream of an ion guide (6). Ions are scanned out of the mass selective ion trap or mass analyser (4) and are received in one or more axial potential wells created or formed within the ion guide (6). One or more transient DC voltages or potentials are preferably applied to the ion guide (6) in order to create a plurality of axial potential wells which are translated along the length of the ion guide (6). Ions are released in packets from the exit of the ion guide (6) and are orthogonally accelerated into a drift or flight region of an orthogonal acceleration Time of Flight mass analyser (13) with a relatively high duty cycle.

L'invention concerne un spectromètre de masse comprenant un piège ionique sélectif de masse ou un analyseur de masse (4) agencé en amont d'un guide d'ions (6). Les ions sont scannés lorsqu'ils sortent du piège ionique sélectif de masse ou de l'analyseur de masse (4) et sont reçus dans au moins une lacune de potentiel axiale créée ou formée à l'intérieur du guide d'ions (6). Au moins un potentiel ou une tension CC transitoire est de préférence appliquée au guide d'ions (6), de sorte à créer une pluralité de lacunes de potentiel axiales qui subissent une translation le long du guide d'ions (6). Les ions sont libérés par paquets à partir de la sortie du guide d'ions (6), et sont orthogonalement accélérés dans une zone de glissement ou de vol d'un analyseur de masse de durée de vol à accélération orthogonale (13) présentant un cycle de travail relativement élevé.

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