Master slice lsi with fault detection circuitry

Details Master slice lsi with fault detection circuitry Master slice lsi with fault detection circuitry

G - Physics

01

R

G01R 31/26 (2006.01) H01L 27/08 (2006.01) H01L 27/118 (2006.01)

Patent

CA 2074001

Circuits for providing a desired function of a master slice LSI are formed by part of rows of semiconductor devices packed in rows on a substrate. Test circuitry for finding faulty semiconductor devices comprises sets of sense amplifiers each for detecting fault in a semiconductor device in the row connected to that set of sense amplifiers, shift registers each for determining the location of the faulty device in accordance with the output of the set of sense amplifiers associated therewith, and a decoder. The test circuitry is disposed only for the semiconductor device rows forming said circuits, and the test circuitry is formed by part of the packed semiconductor devices.

Des circuits destinés à assurer une fonction désirée à partir d'un circuit intégré à grande échelle sont formés par des parties de rangées de semi-conducteurs alignés en rangées sur un substrat. Un circuit d'essai pour le repérage des semi-conducteurs défectueux comporte des jeux d'amplificateurs de détection, chaque rangée de semi-conducteurs étant reliée à un jeu d'amplificateurs de détection, à des registres à décalage utilisés pour déterminer l'emplacement de l'élément défectueux en fonction du signal de sortie du jeu d'amplificateurs de détection correspondant, ainsi qu'un décodeur. Le circuit d'essai est prévu seulement pour les rangées de semi-conducteurs et constitué par une partie des semi-conducteurs groupés.

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