Measurement of object layer thickness using ultra-sonic...

A - Human Necessities – 61 – B

Patent

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Details

A61B 8/00 (2006.01) A61B 8/08 (2006.01)

Patent

CA 2269450

The present invention provides for a method of measuring layer thickness in an object comprising transmitting at least a first and a second ultra-sonic pulse from at least a first and second position; measuring at least one reflective distance from the first pulse and at least one reflective distance from the second pulse, wherein the reflective distance is from the object's external surface (or probe) to a reflective interface (5) of at least one layer; selecting the reflective distance having the shortest reflective distance to indicate the distance between the external surface (or probe surface) and the reflective interface (5) of at least one layer, wherein the selecting of the shortest reflective distance reduces ultra-sonic transmission parallax of the first and second pulses relative to a plane (4) in the object.

La présente invention concerne un procédé permettant de mesurer une épaisseur de couche dans un objet; le procédé consiste à émettre au moins une première et une deuxième impulsion ultrasonore à partir d'au moins une première et une deuxième position; à mesurer au moins une distance réfléchissante à partir de la première impulsion et au moins une distance réfléchissante à partir de la deuxième impulsion, la distance réfléchissante s'étendant de la surface extérieure de l'objet (ou de la sonde) vers une interface réfléchissante (5) d'au moins une couche; à sélectionner la distance réfléchissante présentant la distance réfléchissante la plus courte pour indiquer la distance comprise entre la surface extérieure de l'objet (ou la surface de la sonde) et l'interface réfléchissante (5) d'au moins une couche, la sélection de la distance réfléchissante la plus courte permettant de réduire le parallaxe de transmission ultrasonore des première et deuxième impulsions par rapport à un plan (4) de l'objet.

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