Measurement system for surface feature recognition

Details Measurement system for surface feature recognition Measurement system for surface feature recognition

G - Physics

01

B

G01B 11/30 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01) G01N 21/896 (2006.01)

Patent

CA 2261986

A measurement system for determination of surface features of material (3), e.g. flat glass, that is moved rapidly on a conveyor (2), with a sensor system (1) that is stationary relative to the moving material (3) and is directed to the reflecting or scattering surface, consists of a plurality of transmitter- detector pairs (6, 7) disposed transverse to the direction (10) in which the material (3) is conveyed and vertically offset from the conveyor (2) along a line, each detector output being connected to a device for determining the intensity of the detector signal such that the intensity signals of all detectors (7) can be delivered in parallel to an evaluation unit (5).

L'invention concerne un système de mesure pour déterminer les caractéristiques de surface d'un matériau (3), verre plat par ex., se déplaçant rapidement sur une unité de transport (2). Ledit système comporte un système de détection (1) fixe par rapport au matériau en mouvement, dirigé sur la surface réfléchissante ou la surface de diffusion. Ce système de détection comprend une pluralité d'éléments émetteur/détecteur (6, 7) disposés par paire, sur une ligne, transversalement au sens de transport (10) du matériau, et décalés en hauteur par rapport à l'unité de transport (2). Chaque sortie de détecteur est raccordée à un dispositif pour déterminer l'intensité du signal de sorte que les signaux d'intensité de tous les détecteurs (7) peuvent être acheminés en parallèle à une unité d'évaluation (5).

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