G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 7/02 (2006.01) G01B 7/00 (2006.01) G01B 7/06 (2006.01) G01R 35/00 (2006.01)
Patent
CA 2420309
Measuring the wall thickness of an electrically conductive object (2) using a probe (4) comprising a transmitter coil (6), a first receiver (8) and a second receiver (10), which method comprises arranging the probe (4) near the object (2); inducing transient eddy currents in the object (2) and recording the signals of the receivers with time; measuring the wall thickness from a characteristic of one of the signals; calculating a characteristic value from a combination of the signals; and correcting the measured wall thickness for the distance between the probe (4) and the object (2) using a pre-determined relationship between the wall thickness and the characteristic value for different values of the distance between the probe (4) and the object (2).
La présente invention concerne la mesure de l'épaisseur de la paroi d'un objet (2) électriquement conducteur par utilisation d'une sonde (4) comprenant une self d'émetteur (6), un premier récepteur (8) et un second récepteur (10). Le procédé consiste à agencer la sonde (4) près de l'objet (2), à induire un courant de Foucault à onde mobile dans cet objet (2) et à enregistrer les signaux des récepteurs avec les temps, à mesurer l'épaisseur de la paroi à partir d'une caractéristique d'un de ces signaux, à calculer une valeur de caractéristique à partir d'une combinaison de ces signaux, et à corriger l'épaisseur de la paroi mesurée pour la distance entre la sonde (4) et l'objet (2) à l'aide d'une relation prédéterminée entre l'épaisseur de la paroi et la valeur de caractéristique pour des valeurs différentes de la distance entre cette sonde (4) et cet objet (2).
Carolus Nicolaas Crouzen Paulus
Looijer Mark Theodoor
Van Der Steen Johan
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Shell Internationale Research Maatschappij B.v.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1636696