G - Physics – 11 – C
Patent
G - Physics
11
C
G11C 29/00 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G06F 11/00 (2006.01) G11C 7/00 (2006.01)
Patent
CA 2340633
The present invention relates to a method and system for testing a memory in operation. A storage unit is used to temporarily free one memory location in the memory, making it possible to check this memory location for bit errors. Data intended for the selected memory location is stored in the storage unit, and instead a test pattern is written into the memory location to be tested and read out again, all in coordination with the normal operation of the memory. If the pattern read from the test location does not match the written test pattern, an alarm is raised.
La présente invention concerne un procédé et un système qui permettent de tester une mémoire en fonctionnement. Une unité de stockage est utilisée pour libérer momentanément un emplacement mémoire dans la mémoire, ceci permettant de vérifier ce même emplacement mémoire au niveau des erreurs portant sur les bits. Les données destinées à l'emplacement mémoire sélectionné sont stockées dans l'unité de stockage, et, à leur place, une séquence de test est écrite dans l'emplacement mémoire à tester puis lue à nouveau, tout ceci s'effectuant simultanément au fonctionnement normal de la mémoire. Si la séquence lue à l'emplacement test ne correspond pas à la séquence test écrite, une alarme se déclenche.
Ernkell Mats
Gustafsson Stefan
Lindberg Mikael
Ericsson Canada Patent Group
Telefonaktiebolaget Lm Ericsson
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1408377