G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 29/12 (2006.01) G01H 9/00 (2006.01) G01H 13/00 (2006.01) G01N 29/04 (2006.01)
Patent
CA 2319478
The invention relates to a method and apparatus for nondestructive testing and evaluation of materials and mechanical structures to determine their integrity reducing contact-type flaws and presence of ice on a structure. The invention employs an ultrasonic probing signal (30) and a low frequency vibration (20) applied to a structure (8) tested. In a structure without flaws or ice, these signals propagate independently without any interaction. If the structure contains a defect or ice thereon, the vibration varies the contact area of the defect or ice/structure interface, modulating the phase and amplitude of the higher frequency ultrasonic probing signal passing through the structure (8). In the frequency domain the result of this modulation manifests itself as sideband spectral components with respect to frequency of the probe wave. This can be considered as a new signal generated by a defect, so that the defect can be detected more easily when such a signal is observed.
L'invention concerne un procédé et un dispositif permettant d'effectuer un essai et une évaluation non destructives de matériaux et de structures mécaniques afin de détecter leurs défauts de contact réduisant leur intégrité et la présence de glace sur les structures. Dans ce procédé, un signal (30) de test ultrasonique et une vibration (20) basse fréquence sont appliqués à la structure (8) testée. Dans une structure ne présentant ni défauts ni glace, ces signaux se propagent de manière indépendante sans aucune interaction. Si la structure comporte un défaut ou de la glace, la vibration modifie la zone de contact du défaut ou l'interface glace/structure, modulant la phase et l'amplitude du signal de test ultrasoniques de fréquence plus élevée passant à travers la structure (8). Dans le domaine fréquentiel le résultat de cette modulation se traduit sous forme de composantes spectrales de bande latérale qui ne sont pas présents dans la fréquence de l'onde de test. Cette manifestation peut être considérée comme un nouveau signal généré par un défaut, l'observation d'un tel signal rendant ainsi ce défaut plus aisé à détecter.
Donskoy Dimitri M.
Sutin Alexander M.
Ridout & Maybee Llp
The Trustees Of The Stevens Institute Of Technology
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1696100