Method and apparatus for back facet monitoring of multiple...

G - Physics – 01 – J

Patent

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G01J 1/08 (2006.01) H01S 5/40 (2006.01)

Patent

CA 2133496

The present invention is a novel multiple laser diode structure and method for using such structures to optically isolate the light from the different diodes. The novel structure comprises a submount on which the individual lasing elements are mounted and a back facet monitoring plate coupled to the submount. The back facet monitoring plate comprises a plurality of optically sensitive detectors that monitor the amount of laser light emanating from the back facet. Ideally, one detector should be mounted opposite a back facet for each lasing element. The submount is designed with an isolation bar that optically separates the light from individual lasing elements. The radiation thus detected by each detector emanates from the back facet of a single lasing element. The amount of back facet radiation captured by the detector is proportional to the amount of radiation emanating from the front facet of the lasing element. This information enables the system to individually monitor and subsequently control the spot power of the lasing element in a continuous closed loop fashion.

L'invention est constituée par une structure à diodes laser multiples d'un type nouveau et par une méthode d'utilisation de ces structures pour isoler optiquement la lumière des diverses diodes. Cette structure est dotée d'un support sur lequel les éléments actifs individuels sont montés et une plaque de contrôle à facette arrière couplée à ce support. La plaque de contrôle à facette arrière est constituée d'une pluralité de détecteurs photosensibles qui contrôlent la quantité de lumière laser émanant de la facette arrière. Idéalement, il est préférable de monter un détecteur en face de la facette arrière pour chaque élément actif. Le support est équipé d'une barrette d'isolement qui sépare optiquement la lumière des divers éléments actifs. Ainsi, le rayonnement détecté par chacun des détecteurs provient de la facette arrière d'un seul élément actif. La quantité de rayonnement de facette arrière capté par le détecteur est proportionnelle à la quantité de rayonnement qui émane de la facette avant de l'élément actif. Cette information permet au système de surveiller et de contrôler la puissance ponctuelle de chacun des éléments actifs en boucle fermée continue.

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