Method and apparatus for calibrating a non-contact gauging...

G - Physics – 01 – B

Patent

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G01B 11/03 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01)

Patent

CA 2434665

A calibration system is provided for calibrating a sensor with respect to an external reference frame associated with manufacturing gauging station (200). A target calibration device (600) is positioned at a vantage point to detect and calibrate its reference frame in relation to the external reference frame. A reference target having at least three non-coplanar reflective surfaces (406) is illuminated by the structured light emanating from the sensor. In this way, the calibration system is able to determine the spatial location and orientation of the reference target in relation to the sensor. The calibration system further includes a coordinate transformation system for coordinating the measurement data from the target calibration device and from the feature sensor (240), whereby the feature sensor (240) is calibrated with respect to the external reference frame.

L'invention porte sur un système de calibrage destiné à calibrer un capteur par rapport à un cadre de référence externe associé à la fabrication d'un poste de mesure (200). Un dispositif de calibrage (600) de cible est placé à un point d'observation pour détecter et calibrer son cadre de référence par rapport à un cadre de référence externe. Une cible de référence présentant au moins trois surfaces réfléchissantes non-coplanaires (406) est éclairée par la lumière structurée provenant du capteur. De cette manière, le système de calibrage est en mesure de déterminer l'emplacement spatial et l'orientation de la cible de référence par rapport au capteur. Le système de calibrage comprend en outre un système de transformation de coordonnées permettant de coordonner les données de mesure provenant du dispositif de calibrage de cible et du capteur (240) qui est calibré par rapport au cadre de référence externe.

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