G - Physics – 01 – M
Patent
G - Physics
01
M
G01M 11/00 (2006.01) G01M 11/02 (2006.01)
Patent
CA 2103049
Optical properties of a lens, including localized defects, are determined by analyzing the refracted image produced by transmitting a beam of light through an aperture (16) and a lens (12) to be tested. The image is reflected onto a light sensitive detecting surface (20). Information obtained from the light detecting surface is digitized and sent to an image processing unit (24) which calculates the optical properties of the lens. The aperture may consist of a single shaped opening or alternatively a plurality of concentric, annular rings. Correction lenses (30, 32) may be employed, either permanently or selectively, to alter the refracted beam before the beam intersects the detective surface.
L'on détermine les caractéristiques optiques d'une lentille, y compris des défauts localisés, en analysant l'image réfléchie produite lorsqu'on émet un faisceau de lumière passant à travers un orifice (16) et une lentille (12) mise à l'essai. L'image est réfléchie sur une surface de détection (20) photosensible. Des données obtenues à partir de la surface détectant la lumière sont numérisées et envoyées à une unité de traitement d'images (24) qui calcule les caractéristiques optiques de la lentille. L'orifice peut se composer d'une ouverture profilée unique ou, selon une variant, d'une multiplicité d'anneaux concentriques. Des lentilles correctrices (30, 32) peuvent être utilisées, soit continuellement, soit sélectivement, pour modifier le faisceau réfléchi avant qu'il ne coupe la surface photosensible.
Luce David A.
Percival Christopher J.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Leica Microsystems Inc.
LandOfFree
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