H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/10 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/04 (2006.01) H01J 49/06 (2006.01)
Patent
CA 2368462
The invention is provides a method and an apparatus for performing electrospray ionization mass spectrometric analysis, which method can exactly analyze a mass of a molecular ion or a fragment ion of an unstable organometallic complex or a polymeric organic compound. The method includes cooling a sample to be analyzed which contains a solvent and is caused to flow out from a spray small-diameter tube with an inert gas for low temperature vaporization (A), and carrying out ionization and mass spectrometric analysis of the sample to be analyzed while cooling a chamber (7) for removing a solvent or an ion source shield (8) with liquid nitrogen.
L'invention concerne un procédé d'analyse spectrométrique ES-MS, qui consiste à refroidir un échantillon à analyser, contenant un solvant et s'écoulant d'un tube de pulvérisation fine, à l'aide d'un gaz inerte pour la vaporisation (A) à faible température, à ioniser et à assurer une analyse spectrométrique de masse de l'échantillon alors qu'une chambre (7) est refroidie, de sorte qu'un solvant ou un bloc source d'ions (8) soit enlevé à l'aide d'azote liquide. L'invention porte également sur un appareil pour la mise en oeuvre du procédé. Le procédé de l'invention peut être utilisé pour l'analyse exacte de la masse d'un ion moléculaire ou d'un ion fragment d'un complexe organométallique instable ou d'un composé organique polymère.
Japan Science And Technology Agency
Japan Science And Technology Corporation
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1521167