G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/47 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) G01N 21/57 (2006.01)
Patent
CA 2630231
The invention relates to method for establishing light reflection properties of a specific surface, by measuring, for a plurality of comparison surfaces, the r-tables in accordance with CIE standard recommendations, measuring, for the same plurality of comparison surfaces, a light reflection parameter for selected angles (.gamma.) of incident light and angles (90~ - .alpha.) and (.beta.) of reflected light, using a "portable" measuring apparatus, measuring in situ, on multiple measuring points of said specific surface, said parameter for said angles (.gamma.), (.alpha.) and (.beta.), using said "portable" apparatus, comparing the angular distribution of said parameter for the specific surface with that for said comparison surfaces, to select the comparison surface showing the best distribution fit, optionally taking into account a rescaling factor on luminance coefficient Q0, and assigning to said specific surface the "r-table" corresponding to said selected comparison surface, with said optional rescaling factor.
Procédé pour l'établissement des propriétés de réflexion lumineuse d'une surface spécifique, consistant à mesurer, pour plusieurs surfaces de comparaison, les valeurs des tables-r selon les recommandations des normes de la CIE, à mesurer, pour la même pluralité de surfaces de comparaison, un paramètre de réflexion lumineuse pour des angles spécifiques (?) de lumière incidente et des angles (a) et (ß) de lumière réfléchie, à utiliser un dispositif de mesure <= portatif >=, à mesurer in situ, sur des points de mesure multiples de la surface spécifique considérée, le paramètre en question pour les angles visés (?), (a) et (ß), par le biais de ce dispositif <= portatif >=, à comparer la distribution angulaire du même paramètre pour la surface spécifique avec celle des surfaces de comparaison, pour sélectionner la surface de comparaison qui présente le meilleur ajustement de distribution, éventuellement compte tenu d'un facteur de rééchelonnage sur le coefficient de luminance Q0, et à attribuer à cette surface spécifique la <= table-r >= qui correspond à la surface de comparaison sélectionnée, par le biais du facteur de rééchelonnage éventuel.
Norton Rose Or S.e.n.c.r.l. S.r.l./llp
Schreder
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