G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/00 (2006.01) G01R 19/08 (2006.01) G01R 33/12 (2006.01)
Patent
CA 2229241
Herein disclosed are method and apparatus of measuring a critical current value of a superconducting wire formed by wire sections S(n), n being 1~n~N and initially set to 1. The method is performed by the apparatus and comprises a first step (a) of determining electric currents I(m), m being 1~m~M. The method further comprises a second step (b) of setting m to 1, a third step (c) of passing the electric current I(m) through the wire section S(n), a fourth step (d) of detecting a voltage generated in the wire section S(n) by the electric current I(m), a fifth step (e) of replacing m with m+1, and a sixth step (f) of repeating the steps (c) to (e) until m is equal to M. The method further comprises a seventh step (g) of replacing n with n+1, an eighth step (h) of repeating the steps (b)-(g) until n is equal to N, thereby obtaining NxM voltages. The method further comprises a ninth step (i) of setting m to 1, a tenth step (j) of summing up the N voltages generated by the same electric current I(m) to obtain a summation voltage represented by Vsum(m), an eleventh step (k) of replacing m with m+1 after the step (j), a twelfth step (l) of repeating the steps (j) and (k) until m is equal to M, thereby obtaining M summation voltages Vsum(m). The method further comprises a thirteenth step (m) of calculating the critical current value of the superconducting wire on the basis of a reference voltage and a relationship between the summation voltages Vsum(m) and the electric currents I(m), the reference voltage being predetermined depending upon the length of the superconducting wire.
Méthode et appareil permettant de mesurer une valeur de courant critique d'un fil supraconducteur formé de sections de fil S(n), n correspondant à 1~n~N et ayant initialement la valeur 1. La méthode est exécutée par l'appareil et comprend les étapes suivantes : première étape a) déterminer les courants électriques I(m), m correspondant à 1~m~M; deuxième étape b) mettre m à 1, troisième étape c) appliquer le courant électrique I(m) à la section de fil S(n); quatrième étape d) détecter une tension produite dans la section de fil S(n) par le courant électrique I(m); cinquième étape e) remplacer m par m+1; sixième étape f) répéter les étapes c) à e) jusqu'à ce que m soit égal à M; septième étape g) remplacer n par n+1; huitième étape h) répéter les étapes b) à g) jusqu'à ce que n soit égal à N, de façon à obtenir NxM tensions; neuvième étape i) mettre m à 1; dixième étape j) mettre en sommation les N tensions produites par le même courant électrique I(m) afin d'obtenir une tension de sommation représentée par Vsum(m); onzième étape k) remplacer m par m+1 après l'étape j); douzième étape l) répéter les étapes j) et k) jusqu'à ce que m soit égal à M, de façon à obtenir M tensions de sommation Vsum(m); treizième étape m) calculer la valeur de courant critique du fil supraconducteur en fonction d'une tension de référence et de la relation entre les tensions de sommation Vsum(m) et les courants électriques I(m), la tension de référence étant prédéterminée selon la longueur du fil supraconducteur.
Kaneko Tetsuyuki
Sashida Tetsuaki
Marks & Clerk
Sumitomo Electric Industries Ltd.
LandOfFree
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