G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 21/08 (2006.01) G01B 5/06 (2006.01)
Patent
CA 2252530
A method and apparatus (10) for measuring the thickness of an article (12) comprises providing a table (18) having a plurality of thickness references (30) at a first end (36) and with openings (22) for access to the lower surface of the article (12) on the table. A plurality of pairs of opposed sensors are mounted on a carriage (44) that extends across the width of the table (18) and is adapted for movement in the longitudinal direction of the table. One member (46) of each pair of sensors is above the table opposite a second member (48) that is below. The carriage (18) is positioned at a first location where each pair of sensors measures the thickness of the thickness reference with which it is aligned. The carriage then is stepwise moved to one or more subsequent locations to measure the thickness of the article at such locations.
Procédé et appareil (10) pour mesurer l'épaisseur d'un article (12). Ledit procédé consiste à produire une table (18) comprenant plusieurs références d'épaisseur (30) à une première extrémité et des ouvertures (22) donnant accès à la surface inférieure de l'article (12) sur la table. Plusieurs paires de capteurs opposés sont montées sur un chariot (44) qui s'étend sur la largeur de la table (18) et est conçu pour se déplacer dans l'axe longitudinal de la table. Un élément (46) de chaque paire de capteurs se situe au-dessus de la table, à l'opposé d'un second élément (48) situé au-dessous. Le chariot (18) est placé en un premier endroit où chaque paire de capteurs mesure l'épaisseur de la référence d'épaisseur avec laquelle elle est alignée. Le chariot est ensuite déplacé pas à pas vers un ou plusieurs autres points pour permettre la mesure de l'épaisseur de l'articles à ces endroits.
Hochbein David E.
Kerney Craig J.
Aluminum Company Of America
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1832572