B - Operations – Transporting – 23 – K
Patent
B - Operations, Transporting
23
K
B23K 26/00 (2006.01) B23K 26/03 (2006.01) G01B 11/02 (2006.01)
Patent
CA 2251185
A method and apparatus for monitoring the quality of a laser process such as a welding process comprises monitoring the light emitted from the weld plasma above the surface of the workpiece being irradiated by the laser beam. The size of the plasma is determined from the light emission and compared to a predetermined value of the size as determined under process and workpiece conditions that produce welds of acceptable quality. Variations of the monitored plasma size greater than a preselected value can represent unacceptable welds. Such variations can be caused by changes in the laser beam power, the workpiece speed, laser focusing problems, insufficient shield gas flow, workpiece deformation and weld contamination. The process monitors the light emission from a selected range of wavelengths that correspond to the major emission peaks of the light spectrum. The process enables in-process control.
Méthode et appareil pour contrôler la qualité d'un procédé au laser, tel un procédé de soudage, comprenant le contrôle de la lumière émise par le plasma de soudage au-dessus de la surface de la pièce à souder irradiée par le faisceau laser. La taille du plasma est déterminée à partir de l'émission de lumière et comparée à une valeur prédéterminée de la taille établie dans des conditions de procédé et de pièce à souder produisant des soudures de qualité acceptable. Des écarts dans la taille de plasma contrôlée qui sont plus grands qu'une valeur préétablie peuvent représenter des soudures inacceptables. De tels écarts peuvent être causés par des changements dans la puissance du faisceau laser, la vitesse de la pièce à souder, des problèmes de focalisation laser, un débit insuffisant de gaz de protection, la déformation de la pièce et la contamination de la soudure. Le procédé contrôle l'émission de lumière pour une plage choisie de longueurs d'onde qui correspondent aux principales pointes d'émission dans le spectre optique. Le procédé permet le contrôle en cours de déroulement du procédé.
Chou Mau-Song
Shih Christopher C.
Shirk Bryan W.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Northrop Grumman Corporation
Trw Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2004687