Method and apparatus for monitoring parameters corresponding...

G - Physics – 03 – G

Patent

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G03G 15/00 (2006.01)

Patent

CA 2374764

A system (20) for assessing performance of an electrophotographic marking machine (22) is provided, wherein data from several different inputs (24, 26) are gathered in two distinct sets (36, 38) having different frequencies. A high frequency data set (36) includes parameters typically recorded with each print made, and provides an electrophotographic history which is used in deducing the cause of malfunctions. The lower frequency data (38) are typically recorded at the time of each autosetup, and provide electrophotographic trend information which is used as a predictor of component and consumable lifetimes. In each data set, only data over an appropriately selected period are maintained on a first- in, first-out basis. This system simultaneously provides an intensive recent history for tracing faults, and enables long-term trends to be discerned.

Cette invention concerne un système (20) permettant d'évaluer le fonctionnement d'une machine de marquage électromagnétique (22). Dans ce système, les données de différentes provenances (24, 26) sont regroupées en deux ensembles distincts (36, 38) présentant des fréquences différentes. Un ensemble de données haute fréquence (36) comprend des paramètres enregistrés généralement pour chaque impression et fournit un récapitulatif électro-photographique servant à déduire la cause de dysfonctionnements. Les données basse fréquence (38) sont généralement enregistrées au moment de chaque réglage automatique et fournissent des informations électro-photographiques tendancielles servant à prédire la durée de service d'un composant ou d'un produit consomptible. Dans chaque ensemble de données, celles d'entre elles qui correspondent à une durée sélectionnée pour sa pertinence sont conservées sur une base premier entré-premier sorti. Ce système à la fois fournit un récapitulatif récent pour la localisation des fautes et permet de mettre au jour des tendances à long terme.

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