Method and apparatus for neutron microscopy with...

G - Physics – 01 – V

Patent

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G01V 5/00 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01) G01N 23/05 (2006.01) G01N 23/22 (2006.01) G01T 1/202 (2006.01)

Patent

CA 2452163

A system provides non-invasive stoichiometric detection and imaging of chemical elements and compounds in a material to be analyzed. The system includes a particle generator which generates first and second particles at a target position a first distance from the material. The system further comprises a photon detector capable of detecting photons resulting from irradiation of the material by the first particles and generating a plurality of first electrical signals. The system further comprises a particle detector array for detecting the second partices at a second distance, larger than the first distance, from the target position and generating a plurality of second electrical signals. The system further comprises an analyzer comprising a processor that produces a plurality of filtered electrical signals. The analyzer further comprises a plurality of electronic coincidence circuits which detect coincidences occurring between the plurality of filtered electrical signals and the plurality of second electrical signals.

L'appareil concerne un système de détection stoechiométrique non invasive et d'imagerie d'éléments et de composés chimiques dans un matériau à analyser. Ledit système comprend un générateur de particules générant des première et des secondes particules au niveau d'une position cible à une première distance dudit matériau; un détecteur de photons capable de détecter des photons résultant de l'irradiation du matériau au moyen des premières particules et générant une pluralité de premiers signaux électriques; un réseau de détecteurs de particules permettant de détecter les secondes particules à une seconde distance plus grande que la première, à partir d'une position cible et de générer une pluralité de seconds signaux électriques; un analyseur comprenant un processeur produisant une pluralité de signaux électriques filtrés, ledit analyseur comprenant également une pluralité de circuits de coïncidence électroniques qui détectent des coïncidences entre la pluralité de signaux électriques filtrés et la pluralité de seconds signaux électriques.

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