Method and apparatus for optical to electrical to optical...

H - Electricity – 04 – Q

Patent

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H04Q 11/00 (2006.01) G02B 6/43 (2006.01)

Patent

CA 2389527

Methods, apparatus and systems for regenerating, monitoring and bridging optical signals through an optical cross-connect switch to provide increased reliability. A self testing method, apparatus and system for an optical cross- connect switch. An optical-to-electrical-to-optical converter (O/E/O) is provided in an optical cross-connect switch to provide optical-electrical- optical conversion. I/O port cards having an optical-to-electrical-to-optical converter are referred to as smart port cards while I/O port cards without an optical-to-electrical-to-optical converter are referred to as passive port cards. Test port/monitor cards are also provided for testing optical cross- connect switches. Methods, apparatus and systems for performing bridging, test access, and supporting redundant optical switch fabrics are also disclosed.

La présente invention concerne des procédés, des appareils et des systèmes permettant de regénérer, surveiller et de brancher en dérivation des signaux optiques par un commutateur optique de brassage de façon à offrir une meilleure fiabilité. Cette invention concerne aussi un procédé d'auto testage, un appareil et un système destiné à un commutateur optique de brassage. Un convertisseur optique-électrique-optique (O/E/O) est placé dans un commutateur optique de brassage de façon à pouvoir convertir les signaux électriques en signaux optiques et inversement. Les cartes de connexion E/S possédant un convertisseur optique-électrique-optique sont qualifiées de cartes de connexion intelligentes, alors que les cartes de connexion E/S sans ce type de convertisseur sont qualifiées de cartes de connexion passives. Il existe aussi des cartes de surveillance/connexion d'essai destinées à tester les commutateurs optiques de brassage. Cette invention concerne aussi des procédés, des appareils et des systèmes permettant d'effectuer des branchement en dérivation, des accès test, et qui prennent en charge des structures de commutateur optique redondantes.

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