G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 7/16 (2006.01) G01N 1/00 (2006.01) G01N 1/44 (2006.01) G01N 25/48 (2006.01) G01N 25/72 (2006.01) G01N 1/04 (2006.01)
Patent
CA 2247868
Sub-micron chemical analysis of the surface and sub-surface of a sample material is performed at, above or under atmospheric pressure, or on for a sample material submerged in a substance. A thermal and/or topographic image of the surface of the sample material is obtained. A location for study is selected using the image. The activation device is positioned over the selected location and surface and/or sub-surface products are ablated, desorbed or decomposed from the sample material to a chemical analyzer for analysis.
Analyse chimique inférieure au micron de la surface et de la sous-surface d'un échantillon effectuée dans des conditions atmosphériques égales, supérieures ou inférieures à la pression atmosphérique ou de la surface d'un échantillon submergé par une substance. On prend une image thermique ou topographique de la surface de l'échantillon. On sélectionne une zone d'analyse au moyen de l'image. On place le dispositif d'activation au-dessus de la zone sélectionnée et on effectue l'ablation, la désorption ou la décomposition des produits de surface ou de sous-surface depuis l'échantillon afin de les transférer à un analyseur chimique dans le but de les analyser.
Dimock Stratton Llp
Reading Michael
Ta Instruments Inc.
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1852504