Method and apparatus for testing a digital rf system

G - Physics – 01 – R

Patent

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Details

G01R 31/3167 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3183 (2006.01) G01R 31/3185 (2006.01) H04B 17/00 (2006.01)

Patent

CA 2156655

A method is provided for accomplishing unified testing of a digital/RF system (10'), comprised of a digital controller (14), a base band processor (20), an RF transmitter (24) and an RF receiver (34). The digital portion of the digital/RF system (10'), including the digital controller (14) and the base-band processor (20), is tested by a digital test technique such as Boundary-Scan testing. Test patterns for the RF elements are down-loaded from the digital controller (14) to the base-band processor via a Boundary-Scan Test Access Port (TAP). Thereafter, the RF transmitter (24) and the RF receiver (34) are tested by applying the test patterns from the base-band processor to the RF transmitter for transmission thereby. The signal produced by the RF transmitter (24) in response to the applied test pattern is converted to a first digital signal stream for processing by the base-band processor (20) to determine the operability of the transmitter. The signal produced by the RF transmitter (24) is also received by the RF receiver (34) for demodulation thereby. The demodulated signal is then converted to a second signal stream for input to the base-band processor to determine the operability of the receiver.

Méthode permettant de réaliser des tests unifiés d'un système numérique/RF (10'), comprenant un contrôleur numérique (14), un processeur de bande de base (20), un émetteur RF (24) et un récepteur RF (34). La partie numérique du système numérique/RF (10'), y compris le contrôleur numérique (14) et le processeur de bande de base (20), est testée selon une technique de test numérique, p. ex. test périphérique (Boundary-Scan). Les profils de test des éléments RF sont téléchargés à partir du contrôleur numérique (14) vers le processeur de bande de base au moyen d'un port d'accès de test périphérique (TAP). Par la suite, l'émetteur RF (24) et le récepteur RF (34) sont testés par application des profils de test du processeur de bande de base à l'émetteur RF pour transmission par ce dernier. Le signal produit par l'émetteur RF (24) en réponse au profil de test appliqué est converti en un premier train de signaux numériques à traiter par le processeur de bande de base (20) afin de déterminer l'utilisabilité de l'émetteur. Le signal produit par l'émetteur RF (24) est également reçu par le récepteur RF (34) pour démodulation. Le signal démodulé est ensuite converti en un deuxième train de signaux à transmettre au processeur de bande de base afin de déterminer l'utilisabilité du récepteur.

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