H - Electricity – 04 – L
Patent
H - Electricity
04
L
H04L 1/24 (2006.01)
Patent
CA 2519353
Techniques to test a wireless communication link using configurable channels and rates. A W-Markov test service may be invoked to test and/or verify the performance of the downlink and/or uplink using at least one transport channel for each link. Each transport channel may be individually configured. The W- Markov test service supports generation of test data based on a defined data sequence or a pseudo-random number generator. The testing may be performed based on a particular deterministic or pseudo-random activity model. For voice call testing, a first-order Markov model may be used to model voice activity and to select the rate to use for each transmission time interval (TTI). For Adaptive Multi-Rate (AMR), testing may be performed based on configurable AMR rates and silence descriptor (SID) types. The test data generation processes are synchronized between the transmitter and receiver. Bit, frame, and/or block error rates and other statistics may be collected.
L'invention concerne des techniques destinées à tester une liaison de communication sans fil au moyen de canaux et de débits configurables. Un service de test W-Markov peut être utilisé pour tester et/ou vérifier les performances d'une liaison descendante et/ou ascendante au moyen d'au moins un canal de transport pour chaque liaison. Chaque canal de transport peut être configuré individuellement. Le service de test W-Markov aide à produire des données de test basées sur une séquence de données déterminée ou sur un générateur de nombres pseudo-aléatoires. Le test peut être réalisé en fonction d'un modèle d'activité déterministe ou pseudo-aléatoire déterminé. Pour tester la communication vocale, un modèle Markov de premier ordre peut être utilisé pour modéliser l'activité vocale et déterminer le débit à utiliser pour chaque intervalle de temps de transmission (TTI). Pour le débit multiple adaptatif (AMR), des tests peuvent être réalisés en fonction des débits AMR configurables et des types de descripteurs de silence (SID). Les processus de production de données de test sont synchronisés entre l'émetteur et le récepteur. On peut ainsi collecter des bits, des trames et/ou des taux d'erreurs sur les blocs, ainsi que d'autres statistiques.
Gibson R. Nicholson
Mir Idreas A.
Qualcomm Incorporated
Smart & Biggar
LandOfFree
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