G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/3183 (2006.01) G01R 31/3185 (2006.01) G11C 29/56 (2006.01)
Patent
CA 2410432
A method for at-speed testing high-performance digital systems and circuits having combinational logic and memory elements that may be both scannable and non-scannable is performed by enabling at least two clock pulses during a capture sequence following a shift sequence. Non-scannable memory elements are initialized via scannable memory elements at the beginning of the test before an at-speed test is performed. During initialization, control logic generates a signal to disable the generation of system clock pulses for capture. Instead, only one clock cycle derived from a test clock or a system clock is generated to initialize the non-scannable elements.
L'invention concerne un procédé permettant de tester, dans les conditions réelles de fréquence d'horloge, des systèmes et des circuits numériques à haute performance possédant des éléments logiques combinatoires et des éléments de mémoire qui peuvent être balayables ou non balayables. Ce procédé consiste à autoriser au moins deux impulsions d'horloge durant une séquence de saisie suivant une séquence de décalage. Les éléments de mémoire non balayables sont initialisés au moyen d'éléments de mémoire balayables au début du test avant que le test dans les conditions réelles de fréquence d'horloge ne soit réalisé. Durant l'initialisation, la logique de commande produit un signal pour empêcher la génération d'impulsions d'horloge de système pour la saisie. Au lieu de cela, une seule fréquence d'horloge dérivée d'une fréquence d'horloge de test ou d'une fréquence d'horloge de système est générée afin d'initialiser les éléments non balayables.
Burek Dwayne
Cote Jean-Francois
Maamari Fadi
Nadeau-Dostie Benoit
Logicvision Inc.
Proulx Eugene E.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1533634