G - Physics – 01 – S
Patent
G - Physics
01
S
G01S 13/10 (2006.01) G01F 23/284 (2006.01) G01S 7/292 (2006.01) G01S 13/02 (2006.01) G01S 7/285 (2006.01)
Patent
CA 2236500
For electromagnetic wave distance measurement by the pulse transit time method short electromagnetic transmission pulses are emitted at periodic transmission instants. The signals received in selected transmission cycles after the respective transmission instants are sampled for obtaining in each of these transmission cycles a sample at a sampling instant in a respective sampling time interval, each sampling instant having a delay dictated by a sampling function relative to the respective transmission instant. The sampling instants exhibit differing delays relative to the respective transmission instant so that the samples in sequence produce an image of the sampled received signal extended in time. The sampling function dictating the delays is generated by a computing circuit, preferably a microcomputer, thus making it possible to make use of any sampling function and to modify sampling of the received signals in any way. More particularly, it is possible to measure the applied delays and to correct them to maintain predetermined design values. One sampling function which can be put to use to advantage in this method is a staircase function, each step of which has the length of several sampling time intervals.
Pour mesurer des distances au moyen d'ondes électromagnétiques suivant la méthode du temps de transit d'impulsion, des impulsions électromagnétiques courtes sont émises à des instants d'émission périodiques. Les signaux reçus de cycles d'émission sélectionnés après les instants d'émission correspondants sont échantillonnés : dans chacun des cycles, un échantillon est prélevé à un instant d'échantillonnage d'un intervalle de temps d'échantillonnage correspondant, chaque instant d'échantillonnage étant retardé suivant une fonction d'échantillonnage par rapport à l'instant d'émission correspondant. Les instants d'échantillonnage présentent des retards différents par rapport à l'instant d'émission correspondant, de sorte que la succession des échantillons produit une image du signal reçu échantillonné qui est étalée dans le temps. La fonction d'échantillonnage dictant le retard est générée par un circuit de calcul, de préférence un micro-ordinateur, ce qui permet d'utiliser n'importe quelle fonction d'échantillonnage et de modifier de n'importe quelle façon l'échantillonnage des signaux reçus. Plus particulièrement, il est possible de mesurer les retards appliqués et de les corriger afin de maintenir des valeurs théoriques prédéterminées. Une fonction d'échantillonnage qui peut être mise à profit dans cette méthode est une fonction d'escalier, dont chaque marche équivaut à la longueur de plusieurs intervalles de temps d'échantillonnage.
Michalski Bernhard
Perdue Kenneth L.
Endress + Hauser Gmbh + Co.
Fetherstonhaugh & Co.
LandOfFree
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