Method and arrangement for unaffected material analyse

Details Method and arrangement for unaffected material analyse Method and arrangement for unaffected material analyse

G - Physics

01

N

G01N 21/31 (2006.01) A61B 8/08 (2006.01) G01N 21/65 (2006.01) G01N 3/40 (2006.01)

Patent

CA 2700416

This invention concerns a method for the unaffected material analyse for detection and analysis of at least one material deviation in a material 2. The method is characterised by the detection of a region 1 with a difference in hardness in the material 2 through the use of a tactile sensor 4 that is placed in contact with the material, illumination of the detected area with chromatographic light A in order to obtain reflected light B in the form of a light spectrum, and analysis of the obtained light spectrum in order to obtain information concerning the physical and chemical molecular structure of the material. The invention concerns also an arrangement.

Cette invention porte sur un procédé pour l'analyse sans effet sur le matériau pour la détection et l'analyse d'au moins un écart de matériau dans un matériau 2. Le procédé est caractérisé par la détection d'une région 1 avec une différence de dureté dans le matériau 2 par l'utilisation d'un détecteur tactile 4 qui est placé en contact avec le matériau, l'éclairage de la zone détectée par une lumière chromatographique A afin d'obtenir une lumière réfléchie B sous la forme d'un spectre lumineux, et l'analyse du spectre lumineux obtenu afin d'obtenir des informations concernant la structure moléculaire physique et chimique du matériau. L'invention porte également sur un dispositif.

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