Method and circuit arrangement for non-destructive...

G - Physics – 01 – S

Patent

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G01S 7/52 (2006.01) G01N 29/26 (2006.01) G01S 15/89 (2006.01)

Patent

CA 2532654

The present invention relates to a method for processing signals which are generated during the non-destructive examination of objects by reflection of ultrasonic waves at defect locations of the structure of the object. The method includes emitting a single complete wave front onto at least one section of the object to be examined by means of a plurality of independent transmitter elements. The method includes receiving a wave reflected by the structure of the object by means of a plurality of receiver elements which are independent of one another. The plurality of transmitter and receiver elements constitutes a probe. The method includes digitalizing the signals received from the receiver elements. The method includes storing the digitalized signals according to amplitude and propagation time in a storage element. The method includes detecting the defect locations by a phase- locked addition of the stored amplitude values along a propagation time.

La présente invention concerne un procédé et un circuit pour traiter des signaux qui sont produits lors du contrôle non destructif d'objets (12, 24), tels que des tubes ou des tôles, par réflexion d'ondes ultrasonores sur des défauts (20, AF) de la structure de l'objet (12, 24). Le procédé consiste à émettre un front d'ondes complet sur au moins une section de l'objet (12, 24) à contrôler, au moyen d'une pluralité d'éléments d'émission indépendants (EL1-ELN), à recevoir une onde réfléchie par la structure de l'objet, au moyen d'une pluralité d'éléments de réception indépendants (EL1-ELN), à numériser les signaux reçus par les éléments de réception (EL1-ELN), puis à enregistrer les signaux numérisés en fonction de l'amplitude et du temps de propagation dans un élément d'enregistrement (SP). Afin de pouvoir détecter des défauts de la structure d'un objet à grande vitesse et avec un rapport signal/bruit amélioré, les défauts (20) sont déterminés par une addition à verrouillage de phase des valeurs d'amplitude enregistrées sur un temps de propagation.

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