Method and circuit for testing transmission paths

Details Method and circuit for testing transmission paths Method and circuit for testing transmission paths

H - Electricity

04

L

H04L 1/24 (2006.01) H04B 17/00 (2006.01)

Patent

CA 2057447

A circuit for testing the integrity of transmission paths includes a first linear feedback shift register (LFSR) adapted to generate a periodic sequence of pseudo random test data for transmission on the transmission paths. A second LFSR synchronizes to the transmitted test data after being provided with a seed value corresponding to a transmitted data word. After synchronization, the second LFSR is set to a free running mode and independently generates a pseudo random sequence of patterns corresponding to the sequence generated by the first LFSR. A comparator compares the pseudo random data generated by the second LFSR with the pseudo random data received from the transmission paths. If a mismatch occurs a signal indicating an error condition is asserted.

Un circuit pour vérifier l'intégrité des voies de transmission comprend un registre à décalage à rebouclage linéaire (RDRL) adapté de façon à générer une séquence périodique de pseudo- données d'essai aléatoires pour fins de transmission sur les voies de transmission. Un second RDRL se synchronise avec les données d'essai transmises après avoir reçu une valeur représentative correspondant à un mot transmis. Après la synchronisation, le second RDRL est placé en mode de fonctionnement libre et génère, de façon indépendante, une pseudo-séquence de modèles correspondant à la séquence générée par le premier RDRL. Un comparateur compare les pseudo-données aléatoires générées par le second RDRL aux pseudo-données aléatoires reçues des voies des transmission. En cas d'écart, un signal indiquant la présence d'erreurs est communiqué.

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