G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 27/28 (2006.01)
Patent
CA 2601321
A method and device for determining the linear response of an electrical multi- port component (1) has an "estimation procedure" in which an estimated admittance matrix is determined by applying voltages to the ports of the component and measuring the response of the component. The estimation procedure can e.g. consist of a conventional measurement of the admittance matrix. The method further has a "measurement procedure" in which several voltage patterns are applied to the port. The voltage patterns correspond to the eigenvectors of the estimated admittance matrix. For each applied voltage pattern, the response of the component is measured. This allows to measure the linear response of the component accurately even if the eigenvalues of the admittance matrix differ by several orders of magnitude.
Selon l'invention, un procédé et un dispositif permettant de déterminer la réponse linéaire d'un composant électrique multi-accès (1) mettent en oeuvre une "procédure d'estimation" dans laquelle une matrice d'admittance estimée est déterminée par application de tensions aux accès du composant, et par mesure de la réponse du composant. La procédure d'estimation peut consister, par exemple, en une mesure classique de la matrice d'admittance. Le procédé met également en oeuvre une "procédure de mesure" dans laquelle plusieurs diagrammes de tension sont appliqués à l'accès. Ces diagrammes de tension correspondent aux vecteurs propres de la matrice d'admittance estimée. Pour chaque diagramme de tension appliquée, la réponse du composant est mesurée, ce qui permet de mesurer avec précision la réponse linéaire du composant, même si les valeurs propres de la matrice d'admittance sont différentes de plusieurs ordres de grandeur.
Berth Matthias
Dahlquist Andreas
Heitz Christoph
Niayesh Kaveh
Tiberg Martin
Abb Research Ltd
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1789099