G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/88 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01)
Patent
CA 2225518
Flaws may be detected by illuminating a surface with two plane beams (13, 14) of coherent light at a wavelength close to the ends of the visible spectrum. The two beams are generated, e.g., by laser diodes (11, 12) and lie in a single plane (P) that is substantially orthogonal to the product surface (2), so that a single light trace (T) is formed on said surface. In addition, said beams are angled towards one another and have substantially the same angles of incidence (i). The illumination along said trace is measured in a direction (18) orthogonal to said surface and at said wavelength, e.g. by means of a linear array camera (17). A sharp localised reduction in illumination indicates the presence of a flaw. The method may be used to detect pinholes or scratches on as-cast metallurgical products from continuous casting processes.
Pour détecter ces défauts, on éclaire la surface par deux faisceaux plans (13, 14) de lumière cohérente de longueur d'onde située au voisinage des limites du domaine visible. Les deux faisceaux, générés par exemple par des diodes laser (11, 12), sont situés dans un même plan (P) sensiblement orthogonal à la surface (2) du produit, pour créer sur la dite surface une seule trace lumineuse (T), et dirigés obliquement l'un vers l'autre avec des angles d'incidence (i) sensiblement égaux. On mesure, selon une direction (18) orthogonale à ladite surface, et à ladite longueur d'onde, l'éclairement le long de ladite trace, par exemple par une caméra (17) à réseau linéaire, une forte réduction localisée de l'éclairement étant révélatrice d'un défaut. Application à la détection de piqûres ou rayures sur des produits métallurgiques bruts de coulée continue.
Le Provost Marcel
Swabey Ogilvy Renault
Unimetal - Societe Francaise Des Aciers Longs
LandOfFree
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