G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/06 (2006.01) B65H 43/00 (2006.01) D21F 7/06 (2006.01) G01N 21/59 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01)
Patent
CA 2295543
The invention relates to a method for determining the thickness of a web of continuous material, in which contactless optical methods are used, and measuring takes place with optical spectra, preferably in the infrared (IR) range. In accordance with the invention, continuous spectra are evaluated by chemometric methods and/or neuronal networks, from which the thickness of the material web is advantageously determined by using training sets. An appropriate device for carrying out the method is characterized by a spectrometer (1) having at least one light source, means (10, 10', ...) for transferring the light to the material web (100) and devices (30, 31, 31') for measuring the light intensity after transmission through the material web (100) and for subsequent evaluation in order to determine the material thickness.
L'invention concerne un procédé pour la détermination de l'épaisseur d'une bande de matériau continue, procédé qui utilise des méthodes optiques sans contact et dans lequel la mesure se fait à l'aide de spectres optiques, de préférence dans le domaine des infrarouges (IR). Selon l'invention, on évalue des spectres continus par méthodes chimiométriques ou réseaux neuronaux, l'épaisseur de la bande de matériau étant déterminée avantageusement en utilisant des bases d'apprentissage. Un dispositif associé pour l'exécution du procédé est caractérisé par un spectromètre (1) comportant au moins une source lumineuse, des organes (10, 10', ...) pour transférer la lumière vers la bande de matériau (100) et des dispositifs (30, 31, 31', ...) pour mesurer l'intensité lumineuse après transmission à travers la bande de matériau (100) et pour l'évaluation consécutive permettant de déterminer l'épaisseur du matériau.
Hartenstein Hermann
Lampe Uwe
Roth Christoph
Aktiengesellschaft Siemens
Fetherstonhaugh & Co.
LandOfFree
Method and device for determining the thickness of paper or... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Method and device for determining the thickness of paper or..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method and device for determining the thickness of paper or... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1923610