G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/55 (2006.01) G01N 21/25 (2006.01) G01N 21/86 (2006.01) G01N 33/52 (2006.01)
Patent
CA 2250400
The present invention provides an optics assembly, a reflectometer, and a diagnostic device for providing quantitative measurement of optical radiation reflected from a sampling area (26) on an assay matrix (22). The reflectometer includes an optical radiation source (44) and a detector (34). The optical radiation source (44) and the detector (34) are mounted in a single plane. An optics assembly is configured to direct the illumination from the optical radiation source (44) to the sampling area (26) on the assay matrix (22) and to direct the radiation diffusely reflected from the sampling area (26) to the detector (34). The optics assembly is positioned over the face of the circuit board (94) having the optical radiation source (44) and detector (34) mounted directly thereto. The present invention also provides a method for determining the presence of one or more selected analytes in a sample employing a plurality of sampling areas on one or more assay matrices.
La présente invention décrit un ensemble optique, un réflectomètre et un dispositif de diagnostic permettant de mesurer quantitativement un rayonnement optique réfléchi par une zone d'échantillonnage (26) sur une matrice d'essai (22). Le réflectomètre comprend une source de rayonnement optique (44) et un détecteur (34). La source de rayonnement optique (44) et le détecteur (34) sont montés dans un seul et même plan. Un ensemble optique est configuré pour diriger l'éclairage provenant de la source de rayonnement optique (44) vers la zone d'échantillonnage (26) sur la matrice d'essai (22) et pour diriger le rayonnement réfléchi de manière diffuse par la zone d'échantillonnage (26) vers le détecteur (34). L'ensemble optique est placé au-dessus de la face de la plaquette de circuit (94) sur laquelle sont montés directement la source de rayonnement optique (44) et le détecteur (34). La présente invention décrit également un procédé permettant de déterminer la présence d'un ou de plusieurs analytes sélectionnées dans un échantillon en ayant recours à plusieurs zones d'échantillonnage sur une ou plusieurs matrices d'essai.
Blatt Joel M.
Hebert Raymond T.
Widunas Joseph T.
Metrika Inc.
Smart & Biggar
LandOfFree
Method and device for measuring reflected optical radiation does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Method and device for measuring reflected optical radiation, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method and device for measuring reflected optical radiation will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1483780