G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/19 (2006.01) G01M 11/02 (2006.01) G01N 21/21 (2006.01) G01N 21/59 (2006.01)
Patent
CA 2153701
The dichrograph and accompanying method are usable for parallel measurement of circular dichroism according to the first harmonic of photoelectric current of the detector, optical rotation acccording to the second harmonic and transparency according to the null harmonic. It contains the switch (3) of ray, from which alternatively exit two parallel rays - measurement ray (4) and reference ray (5), going through one mutual modulator of elipticity (6), achromatic phase element (9) which is during calibration of circular unit situated in the reference ray (5). Moreover it contains two analyzers - the measurement analyzer (8) in the measurement ray (4) behind the couvette (7) and the reference analyzer (10) in the reference ray (5). The measurement analyzer (8) has the optical axis turned for 45· same as the modulator (6). The reference analyzer (10) is during measurement turned for unit angle, e.g. for 1·, to the measurement analyzer (8).
Appareil et procédé associé utilisables dans la mesure en parallèle du dichroïsme circulaire en fonction du premier harmonique du courant photoélectrique du détecteur, de la rotation optique en fonction du second harmonique, et de la transparence en fonction de l'harmonique nul. L'appareil comporte un commutateur de faisceau (3) d'où sortent en alternance deux faisceaux parallèles, à savoir un faisceau de mesure (4) et un faisceau de référence (5), qui traversent un modulateur commun d'ellipticité (6), un élément de phase achromatique (9) étant situé sur la trajectoire du faisceau de référence (5) pendant l'étalonnage de l'unité circulaire. Par ailleurs, l'appareil comporte deux analyseurs, à savoir un analyseur de mesure (8) situé sur la trajectoire du faisceau de mesure (4) derrière l'échantillon à mesurer (7), et un analyseur de référence (10) situé sur la trajectoire du faisceau de référence (5). L'axe optique de l'analyseur de mesure (8) forme un angle de 45~ avec celui du modulateur (6). Pendant le processus du mesure, l'analyseur de référence (10) forme un angle unitaire, par exemple 1~, avec l'analyseur de mesure (8).
Macrae & Co.
Rokos & Co Ltd.
LandOfFree
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