G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 37/00 (2006.01) G01N 1/26 (2006.01) G01W 1/00 (2006.01) G08B 21/12 (2006.01)
Patent
CA 2675173
A method and system for detecting, quantifying or characterizing emitting sources. According to an embodiment, an emission source is located by monitoring an area with one or more sensors, determining a plume, generating one or more candidates for the emission source, and using the plume to derive one or more characteristics associated with the emission source, and then locating the emission source based on agreement or convergence of the one or more characteristics.
L'invention concerne un procédé et un système de détection, de quantification ou de caractérisation de sources d'émissions. Selon un mode de réalisation, une source d'émissions est localisée en surveillant une zone avec un ou plusieurs détecteurs, en déterminant un panache, en générant un ou plusieurs candidats pour la source d'émissions, et en utilisant le panache pour dériver une ou plusieurs caractéristiques associées à la source d'émissions, et en localisant ensuite la source d'émissions sur la base de la correspondance ou de la convergence desdites une ou plusieurs caractéristiques.
Dan Butler,terry
Prince Dennis Scott
Airdar Inc.
Bennett Jones Llp
Dan Butler,terry
Prince Dennis Scott
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1565295