G - Physics – 06 – Q
Patent
G - Physics
06
Q
G06Q 10/00 (2006.01) G06F 17/18 (2006.01)
Patent
CA 2655547
A system and method for generating statistical reports showing distribution, variance, outliers and trends for parameters across a set of systems is provided. The reports are generated based on audited data for each system that pertains to the parameters. A distribution report assesses the uniformity of the parameters of a population of systems and provides frequency distributions and statistics describing the data values from the analyzed systems. A variance report assesses the conformity of one or more target systems against a reference data set comprised of a set of baseline systems. The report compares each target system individually against the reference data set to measure the consistency of the target's parameters. A trend report shows trends in the uniformity and conformity measures of the parameters by comparing the statistical analysis results of sets of systems at two or more points in time or the different systems at the same time.
La présente invention concerne un système et un procédé pour générer des rapports statistiques montrant une distribution, une variance, des points aberrants et des tendances pour des paramètres d'un ensemble de systèmes. Les rapports sont générés sur la base de données vérifiées pour chaque système et relatives aux paramètres. Un rapport de distribution évalue l'uniformité des paramètres d'une population de systèmes et fournit des distributions de fréquences et des statistiques décrivant les valeurs de données à partir des systèmes analysés. Un rapport de variance évalue la conformité d'un ou de plusieurs systèmes cibles par rapport à un ensemble de données de référence composé d'un ensemble de systèmes de référence. Le rapport compare chaque système cible individuellement avec l'ensemble de données de référence pour mesurer la cohérence des paramètres de la cible. Un rapport de tendances montre les tendances des mesures d'uniformité et de conformité des paramètres par comparaison des résultats d'analyse statistique d'ensembles de systèmes à au moins deux moments ou des différents systèmes au même moment.
Hillier Andrew D.
Yuyitung Tom
Blake Cassels & Graydon Llp
Cirba Inc.
LandOfFree
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