G - Physics – 06 – T
Patent
G - Physics
06
T
G06T 7/00 (2006.01) G06T 9/00 (2006.01)
Patent
CA 2742632
Method and system for low complexity assessment of quality of an image are presented. By performing multiresolution decomposition of images using, for example, a discrete wavelet transform, and determining a metric based on a structural similarity index or a structural similarity map, a structural similarity score, characterizing similarity between images with a high degree of accuracy, is produced. The processing time is much smaller in comparison to that required by other methods producing image quality metrics of comparable accuracy.
La présente invention concerne un procédé et un système servant à une évaluation de faible complexité de la qualité d'une image. En réalisant une décomposition multirésolution des images en utilisant, par exemple, une transformée en ondelettes discrète, et en déterminant un indicateur basé sur un indice des similarités structurelles ou sur une carte des similarités structurelles, un résultat des similarités structurelles, caractérisant la similarité entre les images ayant un degré élevé de précision, est produit. Le temps de traitement est largement inférieur comparé à celui requis par d'autres procédés produisant des indicateurs de qualité d'image d'une précision comparable.
Coulombe Stephane
Rezazadeh Soroosh
Donnelly Victoria
Ecole de Technologie Superieure
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1756378