G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/63 (2006.01) A61B 6/00 (2006.01) G01N 21/65 (2006.01)
Patent
CA 2550390
In a method for measuring a composition of a sample, an illumination surface area of the sample is illuminated using a light source, and light from a plurality of emitting surface areas of the sample is received, each emitting surface area at a different location, the received light scattered by the sample. A cumulative area of the illumination surface area is greater than a cumulative area of two emitting surface areas of the plurality of emitting surface areas. For each emitting surface area, spectral content information associated with received light corresponding to that emitting surface area is determined, and composition information corresponding to a sub-surface region of the sample is determined based on the determined spectral content information.
Cette invention concerne un procédé destiné à mesurer une composition d'un échantillon, consistant à éclairer une zone de surface d'éclairage de l'échantillon à l'aide d'une source lumineuse et à recevoir une lumière d'une pluralité de zones de surface d'émission de l'échantillon, chaque zone de surface d'émission se trouvant en un point différent et la lumière reçue étant diffusée par l'échantillon. Une aire cumulée de la zone de surface d'éclairage est supérieure à une aire cumulée de deux zones de surface d'émission parmi ces dernières. Pour chaque zone de surface d'émission, des informations de contenu spectral associées à la lumière reçue correspondant à cette zone sont déterminées, et des informations de composition correspondant à une zone sous-jacente de l'échantillon sont déterminées selon les informations de contenu spectral. Différentes formes de zones de surface d'éclairage et la pluralité de zones de surface d'émission peuvent être exploitées efficacement pour diverses géométries d'échantillon ou de spécimen ou sources lumineuses.
Finney William F.
Morris Michael D.
Schulmerich Matthew V.
Finlayson & Singlehurst
The Regents Of The University Of Michigan
LandOfFree
Method and system for measuring sub-surface composition of a... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Method and system for measuring sub-surface composition of a..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method and system for measuring sub-surface composition of a... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1636965