G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 27/02 (2006.01) G01B 7/06 (2006.01) G01N 27/20 (2006.01) G01N 27/24 (2006.01)
Patent
CA 2738450
The present invention relates to a method and a measuring arrangement (1) for the non-destructive detection of coating errors in an electrically conductive substrate layer (4), which is coated with at least one electrically insulating cover layer (5). An input signal is inductively or capacitively input into the electrically conductive substrate layer (4) by means of a signal input device (4). A measurement signal is output from the substrate layer (4) via the cover layer (5) by means of a signal output device (3). An evaluation unit (6) is used to evaluate the output measurement signal. In this case, a coating error is detected when a signal parameter change of a signal parameter of the output measurement signal exceeds an adjustable threshold value.
La présente invention porte sur un procédé et un dispositif de mesure (1) pour la détection non destructive de défauts de revêtement dans une couche de substrat (4) conductrice de l'électricité, qui est revêtue d'au moins une couche de recouvrement (5) isolante électrique. Par l'intermédiaire d'un dispositif (4) d'injection de signaux, un signal d'injection est injecté par voie inductive ou capacitive dans la couche de substrat (4) conductrice de l'électricité. Par l'intermédiaire d'un dispositif (3) de sortie de signaux, un signal de mesure est convoyé en sortie de la couche de substrat (4), en passant par la couche de recouvrement (5). Une unité d'évaluation (6) sert à évaluer le signal de mesure en sortie. Un défaut de revêtement est alors détecté quand une modification d'un paramètre du signal de mesure en sortie dépasse une valeur seuil pouvant être ajustée.
Doerr Tillmann
Feser Ralf
Hack Theo
Schulz Christoph
Airbus Operations Gmbh
Bereskin & Parr Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1515785